淺談高壓貼片電容中的損耗角正切
損耗角正切，一種資料本征特性，并不依賴(lài)于電容器的幾何尺寸。
損耗角正切對(duì)介質(zhì)材料在電子領(lǐng)域中的應(yīng)用有著非常大的影響。實(shí)際使用中往往發(fā)現(xiàn)，介電常數(shù)較低的資料損耗因子也較低。
具有強(qiáng)極化機(jī)制的高K資料則同時(shí)具有較高的損耗因子。
介質(zhì)損耗的頻率效應(yīng)
介質(zhì)資料使用的頻率范圍對(duì)其極化機(jī)制有顯著影響，主要是對(duì)資料隨交流電場(chǎng)反轉(zhuǎn)的極化“弛豫”過(guò)程或時(shí)間延遲而言。
瞬時(shí)極化過(guò)程弛豫時(shí)間短，延時(shí)極化過(guò)程弛豫時(shí)間長(zhǎng)。組成陶瓷介質(zhì)的原子和離子中，后者所引起的介質(zhì)損耗更大。當(dāng)外電場(chǎng)頻率與弛豫過(guò)程的時(shí)間周期同步時(shí)，損耗值最大。
簡(jiǎn)而言之，當(dāng)弛豫時(shí)間與外電場(chǎng)周期相差很大時(shí)損耗則很小：
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