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首頁(yè)電子器件常見(jiàn)問(wèn)題 片式陶瓷電容內(nèi)部外部失效因素是什么?

片式陶瓷電容內(nèi)部外部失效因素是什么?

2020年11月16日15:35 

片式多層陶瓷電容器失效是怎么一回事呢?片式多層陶瓷電容器失效有哪些因素呢?按照失效,我們分為內(nèi)部因素和外部因素,如果片式多層陶瓷電容器內(nèi)部或者外部存在某種缺陷,這都會(huì)直接影響到片式多層陶瓷電容器產(chǎn)品的電性能以及其可靠性,給產(chǎn)品質(zhì)量帶來(lái)隱患。

  我們將內(nèi)部因素分為這3種:空洞、裂紋、分層。

  首先我們說(shuō)說(shuō)陶瓷介質(zhì)內(nèi)的空洞,陶瓷電容介質(zhì)空洞是怎么一回事呢?

  1、陶瓷電容介質(zhì)空洞

  導(dǎo)致陶瓷電容空洞的主要原因是因?yàn)樘沾煞哿蟽?nèi)的有機(jī)或者無(wú)機(jī)的污染,燒結(jié)過(guò)程中火候控制不當(dāng),空洞的產(chǎn)生會(huì)導(dǎo)致漏電,而漏電又導(dǎo)致器件內(nèi)部發(fā)熱,進(jìn)一步降低陶瓷介質(zhì)的結(jié)緣性能從而導(dǎo)致漏電增加。該過(guò)程循環(huán)發(fā)生,不斷惡化,嚴(yán)重時(shí)導(dǎo)致多層陶瓷電容開(kāi)裂,爆炸,甚至燃燒等嚴(yán)重后果。

陶瓷電容

  2、燒結(jié)裂紋

  燒結(jié)裂紋常起源于一端電極,沿垂直方向擴(kuò)展,主要原因與燒結(jié)過(guò)程中的冷卻速度有關(guān)裂紋和危害與空洞相仿。

  3、分層

  多層陶瓷電容器的燒結(jié)為多層材料堆疊共燒。燒結(jié)溫度可以高達(dá)1000°C以上。層間結(jié)合力不強(qiáng),燒結(jié)的過(guò)程中內(nèi)部污染物揮發(fā),燒結(jié)工藝控制不當(dāng)都有可能導(dǎo)致分層的發(fā)生。分層和空間、裂紋的危害相仿,為重要的多層陶瓷電容器內(nèi)在缺陷。

  檢測(cè)方法:

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