壓敏電阻失效表現(xiàn)為兩個(gè)方面
壓敏電阻失效表現(xiàn)為兩個(gè)方面：1、老化失效2、暫態(tài)過電壓破壞。
壓敏電阻老化失效是指電阻體的低阻線性化逐步加劇，漏電流惡性增加且集中流入薄弱點(diǎn)，薄弱點(diǎn)材料融化。
形成1kΩ左右的短路孔后，電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火。
這種事故通?？梢酝ㄟ^一個(gè)與壓敏電阻串聯(lián)的熱熔接點(diǎn)來(lái)避免。
而暫態(tài)過電壓破壞是指較強(qiáng)的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔，導(dǎo)致更大的電流而高熱起火。
整個(gè)過程在較短時(shí)間內(nèi)發(fā)生，以至電阻體上設(shè)置的熱熔接點(diǎn)來(lái)不及熔斷。
引起壓敏電阻燒壞的常見原因如下：過壓保護(hù)的次數(shù)；周圍工作溫度。
壓敏電阻有無(wú)受擠壓，是否通過品質(zhì)認(rèn)證。
浪涌能量太大，超出吸收功率；制造廠產(chǎn)品質(zhì)量不佳，在正常使用條件下很快損壞，
使用電壓偏高了，促使壓敏電阻熱擊穿或電擊穿損壞。
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