壓敏電阻的過常見劣化模式
開路模式：開路模式主要發(fā)生在MOV流過遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出自身承受的浪涌電流時(shí)。
通常表現(xiàn)為氧化鋅壓敏電阻本體炸裂，但這種模式不會(huì)引起燃燒現(xiàn)象。
短路模式：短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過電壓破壞兩種類型。
老化失效：指電阻體的低阻線性逐步加劇，此時(shí)漏電流將會(huì)惡性增加且集中注入點(diǎn)。
導(dǎo)致薄弱點(diǎn)材料融化，形成1KΩ左右的短路孔后，電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火。
研究結(jié)果表明：若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強(qiáng)度不大的電沖擊的多次作用也會(huì)加劇老化過程，使老化失效提前出現(xiàn)。
暫態(tài)過電壓破壞：指短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)較強(qiáng)的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔。
導(dǎo)致更大的電流而高熱起火，整個(gè)過程在較短時(shí)間內(nèi)發(fā)生。
從壓敏電阻失效后的表現(xiàn)情況來看，可分為三種常見的失效狀態(tài)：劣化、炸裂和穿孔。
推薦產(chǎn)品
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通用型Z5U片容屬于Ⅱ類低頻電容器，其電容量的穩(wěn)定性介于X7R和Y5V之間
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