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片式陶瓷電容內(nèi)部外部失效因素是什么?

文章出處:作者:人氣:-發(fā)表時(shí)間:2020-11-16 15:35:00

  片式多層陶瓷電容器失效是怎么一回事呢?片式多層陶瓷電容器失效有哪些因素呢?按照失效,我們分為內(nèi)部因素和外部因素,如果片式多層陶瓷電容器內(nèi)部或者外部存在某種缺陷,這都會(huì)直接影響到片式多層陶瓷電容器產(chǎn)品的電性能以及其可靠性,給產(chǎn)品質(zhì)量帶來隱患。

  我們將內(nèi)部因素分為這3種:空洞、裂紋、分層。

  首先我們說說陶瓷介質(zhì)內(nèi)的空洞,陶瓷電容介質(zhì)空洞是怎么一回事呢?

  1、陶瓷電容介質(zhì)空洞

  導(dǎo)致陶瓷電容空洞的主要原因是因?yàn)樘沾煞哿蟽?nèi)的有機(jī)或者無機(jī)的污染,燒結(jié)過程中火候控制不當(dāng),空洞的產(chǎn)生會(huì)導(dǎo)致漏電,而漏電又導(dǎo)致器件內(nèi)部發(fā)熱,進(jìn)一步降低陶瓷介質(zhì)的結(jié)緣性能從而導(dǎo)致漏電增加。該過程循環(huán)發(fā)生,不斷惡化,嚴(yán)重時(shí)導(dǎo)致多層陶瓷電容開裂,爆炸,甚至燃燒等嚴(yán)重后果。

陶瓷電容

  2、燒結(jié)裂紋

  燒結(jié)裂紋常起源于一端電極,沿垂直方向擴(kuò)展,主要原因與燒結(jié)過程中的冷卻速度有關(guān)裂紋和危害與空洞相仿。

  3、分層

  多層陶瓷電容器的燒結(jié)為多層材料堆疊共燒。燒結(jié)溫度可以高達(dá)1000°C以上。層間結(jié)合力不強(qiáng),燒結(jié)的過程中內(nèi)部污染物揮發(fā),燒結(jié)工藝控制不當(dāng)都有可能導(dǎo)致分層的發(fā)生。分層和空間、裂紋的危害相仿,為重要的多層陶瓷電容器內(nèi)在缺陷。

  檢測(cè)方法:

  超聲波探傷方法能夠更精準(zhǔn)地檢測(cè)出陶瓷電容內(nèi)部的缺陷,并且能夠確定缺陷的位置,進(jìn)一步的磨片分析,對(duì)于發(fā)現(xiàn)有內(nèi)部缺陷的產(chǎn)品則采用整批報(bào)廢處理,表明了超聲波探傷方法在陶瓷電容的內(nèi)部缺陷的檢測(cè)、判定上有效性和可靠性。

  外部因素:裂紋

  1、溫度沖擊裂紋:主要是由于器件在焊接的時(shí)候,波峰焊時(shí)承受溫度沖擊所致,不當(dāng)返修也是受較大的導(dǎo)致溫度沖擊裂紋的重要原因。

  2、機(jī)械應(yīng)力裂紋

  陶瓷電容的特點(diǎn)是能夠承受較大的壓應(yīng)力,但抵抗彎曲能力比較差。器件組裝過程中任何可能產(chǎn)生彎曲的操作都可能導(dǎo)致器件開裂。

  檢測(cè)方法:

  對(duì)于外部缺陷通常采用顯微鏡下人工目測(cè)法或者自動(dòng)外觀分選設(shè)備。

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