鋁電解電容散逸因素大小的試驗(yàn)測試
文章出處：作者：人氣：-發(fā)表時(shí)間：2019-01-14 17:34:00
鋁電解電容損失角，又稱散逸因素，代號DF，是負(fù)電荷經(jīng)負(fù)極及電解液傳至化成膜表面所消耗的這一部分電能，通俗地說：DF=tanØ=ESR/XC,式中ESR為電容等效串聯(lián)內(nèi)阻，XC為容抗，XC=1/2πFC，式中F為測試頻率，C為電容器靜電容量。
損耗角的正切（TAN），相當(dāng)于無功功率和有功功率的比值，這個(gè)值跟電容的品質(zhì)以及發(fā)熱量有關(guān)系，這個(gè)值越小電容性能越好。.漏電流值：無論絕緣體多大，總是會(huì)有細(xì)微的電流漏過電容，這個(gè)值則代表具體漏過的多少。 此外，ESL特性也是電容的性能指標(biāo)之一。但是隨著電容技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在的高檔電解電容，其ESL特性一般都很好，到10MHz、20MHz以上的時(shí)候往往才能體現(xiàn)出區(qū)別，因此也就失去了比較的意義。
我們在實(shí)際測試中，所用儀表一般為LCR表，其內(nèi)部之方法實(shí)際上為阻抗量測方式，所以稱為阻抗表，其方法為先測出阻抗之大小及角度，再利用此參數(shù)去計(jì)算DF值等其它參數(shù)。
我們知道同一批電容之靜電容量誤差可達(dá)±20%，當(dāng)ESR相同時(shí)，DF卻有±20%之變數(shù)，同時(shí)電容器DF值與ESR成正比且直接影響壽命，DF卻不能直接反映電容器之損失。
在頻率測試上，我們應(yīng)關(guān)心高頻之損失，ESR隨頻率增加而減小，代表損失減少，然而DF卻因頻率增加而增加，完全不能反映電容器實(shí)際之損失，故參數(shù)之量測應(yīng)以ESR或│Z│為主才是。
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推薦產(chǎn)品
- 鋁電解電容
插件鋁電解電容器擁有體積小 、壽命長(2000~8000h),高性能、寬溫 (85℃或105℃)等特點(diǎn),可用于高穩(wěn)定電路。
- 超低阻值厚膜電阻
超低阻值厚膜電阻阻值范圍在10m ohm~1000m ohm,體積小,重量輕,適于作電流探測用,產(chǎn)品符合ROHS指令及無鹵素要求
- 軸向色環(huán)多層陶瓷電容
0603、0805、1206. 特征：體積小、容量大、適合自動(dòng)安裝的卷包裝。環(huán)保樹脂封裝，從而具有優(yōu)良的防潮性能。機(jī)械強(qiáng)度及耐熱性。
- NTC熱敏電阻
NTC熱敏電阻是一種負(fù)溫度系數(shù)電阻器，其阻值隨環(huán)境溫度的升高而降低，這種熱敏電阻是由2種或4種金屬氧化物經(jīng)過成型并在高溫下燒制而得成。
- 壓電陶瓷環(huán)
15K φ50 φ17 *6.5 MM 20K φ60 φ30 *10 MM
- 肖特基二極管
0603 0805 1206特征：由于SBD的反向勢壘較薄，所以反向擊穿電壓比較低。由于SBD比PN結(jié)二極管更容易受熱擊穿，反向漏電流比PN結(jié)二極管大。應(yīng)用：SBD的結(jié)構(gòu)及特點(diǎn)使其適合于在低壓、大電流輸出場合用作高頻整流。
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