壓敏電阻的缺點(diǎn)是易老化，大多數(shù)情況下P-N結(jié)過載時會造成短路且不可回轉(zhuǎn)至正常狀態(tài)。

  在電沖擊的反復(fù)多次作用下壓敏電阻內(nèi)的二極管元件被擊穿，電阻體的低阻線性化逐步加劇，壓敏電壓越來越低，漏電流越來越大。

 
  隨著MOV本體溫度的升高，漏電流更大，形成惡性循環(huán)，以至MOV的溫度升高達(dá)到外包封材料的燃點(diǎn)。

  這種情況稱之為高阻抗短路(1kΩ左右)，焦耳熱使得MOV發(fā)熱增加且集中流入薄弱點(diǎn)，薄弱點(diǎn)材料融化。

  形成1kΩ左右的短路孔后，電源繼續(xù)推動一個較大的電流灌入短路點(diǎn)，形成高熱而起火。

  研究結(jié)果表明，若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強(qiáng)度不大的電沖擊的反復(fù)多次作用，也會加速老化過程，使老化失效提早出現(xiàn)。

  壓敏電阻經(jīng)大脈沖電流沖擊后，其U/I特性會產(chǎn)生蛻變，蛻變的結(jié)果會使漏電流增大，壓敏電壓下降。

  把滿足下降要求的壓敏電阻器所承受的最大沖擊電流，稱為壓敏電阻的通流容量，也稱為通流能力或通流量。

  它是表征壓敏電阻器耐受高浪涌電流沖擊的能力的一個參量，此參數(shù)與脈沖幅度，脈沖持續(xù)時間及所承受的脈沖次數(shù)有關(guān)。