壓敏電阻爆裂的原因,壓敏電阻的失效模式。壓敏電阻在吸收突波時(shí),發(fā)生崩潰電壓降低時(shí),將使其工作電流過(guò)大直至燒毀。當(dāng)壓敏電阻的使用環(huán)境或者濕度過(guò)高時(shí),將使其劣化,從而使其工作電流過(guò)大直至燒毀或短路。當(dāng)壓敏電阻的使用電壓超過(guò)額定工作電壓時(shí),將使其劣化,從而使其工作電流過(guò)大直至燒毀或短路。
壓敏爆裂可能的原因主要如下:
1、選用的允許電壓或尺寸規(guī)格過(guò)低,壓敏電阻過(guò)電壓損壞;
2、電路中浪涌過(guò)大,或浪涌比較頻繁,壓敏電阻在多次浪涌沖擊下疲勞損壞爆裂;
3、壓敏電阻有缺陷,如可能是假冒偽劣產(chǎn)品等,有品質(zhì)缺陷。
壓敏電阻的失效模式
第一種劣化,表現(xiàn)在漏電流增大,壓敏電壓顯著下降,直至為零。
第二種炸裂,若過(guò)電壓引起的浪涌能量太大,超過(guò)了選的壓敏電阻器極限的承受能力,則壓敏電阻器在抑制過(guò)電壓時(shí)將會(huì)發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象。
第三種穿孔,若過(guò)電壓峰值特別高,導(dǎo)致壓敏電阻器的失效模式絕大部分表現(xiàn)為劣化各穿孔(短路),解決的辦法為在使用壓敏電阻器時(shí),與之串聯(lián)一個(gè)合適的斷路器或者保險(xiǎn)絲,避免短路引起事故。
總結(jié)來(lái)說(shuō),壓敏電阻在吸收突波時(shí),發(fā)生崩潰電壓降低時(shí),將使其工作電流過(guò)大直至燒毀;發(fā)生爆裂(封裝層裂開(kāi),引線與陶瓷體分離)時(shí),將斷路,從而使保護(hù)失效;發(fā)生此片短路時(shí)將使其燒毀。當(dāng)壓敏電阻的使用環(huán)境或者濕度過(guò)高時(shí),將使其劣化(崩潰電壓降低),從而使其工作電流過(guò)大直至燒毀或短路。當(dāng)壓敏電阻的使用電壓超過(guò)額定工作電壓時(shí),將使其劣化(崩潰電壓降低),從而使其工作電流過(guò)大直至燒毀或短路。