如果測(cè)試儀非常小心，那么可以采用類(lèi)似于mil-std-461的測(cè)試裝置來(lái)檢測(cè)共模扼流圈的飽和特性。然而，使用內(nèi)模探 頭的隱患在于內(nèi)模探 頭的電流衰減功能。即使達(dá)到衰減值，測(cè)量的差模分量也可能超過(guò)預(yù)期的共模分量值。其次，在每個(gè)10μf電容器和電源總線之間連接一根導(dǎo)線。為了快速方便地介紹共模扼流圈的功能，可以考慮以下討論：“共模扼流圈鐵芯兩側(cè)的磁場(chǎng)相互抵消，雖然本文對(duì)共模扼流圈效應(yīng)進(jìn)行了直觀的描述，但本質(zhì)上并非如此。
如果測(cè)試儀非常小心，那么可以采用類(lèi)似于mil-std-461的測(cè)試裝置來(lái)檢測(cè)共模扼流圈的飽和特性。該原理的應(yīng)用是：測(cè)試中使用兩個(gè)電流探針，低頻探針監(jiān)測(cè)線電流，高頻探針只測(cè)量共模發(fā)射電流。采用線電流監(jiān)測(cè)器作為觸發(fā)源。然而，使用內(nèi)模探 頭的隱患在于內(nèi)模探 頭的電流衰減功能。如果仔細(xì)布置繞組布局，可獲得約30dB的差模電流衰減。即使達(dá)到衰減值，測(cè)量的差模分量也可能超過(guò)預(yù)期的共模分量值。這個(gè)問(wèn)題可以通過(guò)以下兩種技術(shù)來(lái)解決：一是用示波器串聯(lián)一個(gè)6KHz的高階高通濾波器（注意匹配終端阻抗50）。其次，在每個(gè)10μf電容器和電源總線之間連接一根導(dǎo)線。為了測(cè)量共模輻射，電流探針應(yīng)該夾在這些承載小線電流的導(dǎo)線附近。
為了快速方便地介紹共模扼流圈的功能，可以考慮以下討論：“共模扼流圈鐵芯兩側(cè)的磁場(chǎng)相互抵消，雖然本文對(duì)共模扼流圈效應(yīng)進(jìn)行了直觀的描述，但本質(zhì)上并非如此。
參照以下關(guān)于麥克斯韋方程的討論：
*假設(shè)電流密度j產(chǎn)生磁場(chǎng)H，可以得出結(jié)論，附近的另一個(gè)電流不會(huì)抵消或阻止磁場(chǎng)或其產(chǎn)生的電場(chǎng)。
*類(lèi)似地，相鄰的電流會(huì)導(dǎo)致磁場(chǎng)路徑發(fā)生變化。
*在環(huán)形共模電感的特殊情況下，可以假定每根引線中的差模電流密度相等且方向相反。因此，產(chǎn)生的磁場(chǎng)在環(huán)形磁芯的外 圍必 須為0，而在外部不能為0！
