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首頁電子產(chǎn)品動態(tài) 鋁電解電容散逸因素大小的試驗測試

鋁電解電容散逸因素大小的試驗測試

2019年01月14日17:34 

鋁電解電容損失角,又稱散逸因素,代號DF,是負電荷經(jīng)負極及電解液傳至化成膜表面所消耗的這一部分電能,通俗地說:DF=tan&Oslash;=ESR/XC,式中ESR為電容等效串聯(lián)內(nèi)阻,XC為容抗,XC=1/2πFC,式中F為測試頻率,C為電容器靜電容量。

損耗角的正切(TAN),相當于無功功率和有功功率的比值,這個值跟電容的品質(zhì)以及發(fā)熱量有關(guān)系,這個值越小電容性能越好。.漏電流值:無論絕緣體多大,總是會有細微的電流漏過電容,這個值則代表具體漏過的多少。 此外,ESL特性也是電容的性能指標之一。但是隨著電容技術(shù)的發(fā)展,現(xiàn)在的高檔電解電容,其ESL特性一般都很好,到10MHz、20MHz以上的時候往往才能體現(xiàn)出區(qū)別,因此也就失去了比較的意義。
我們在實際測試中,所用儀表一般為LCR表,其內(nèi)部之方法實際上為阻抗量測方式,所以稱為阻抗表,其方法為先測出阻抗之大小及角度,再利用此參數(shù)去計算DF值等其它參數(shù)。­
  我們知道同一批電容之靜電容量誤差可達±20%,當ESR相同時,DF卻有±20%之變數(shù),同時電容器DF值與ESR成正比且直接影響壽命,DF卻不能直接反映電容器之損失。­
  在頻率測試上,我們應(yīng)關(guān)心高頻之損失,ESR隨頻率增加而減小,代表損失減少,然而DF卻因頻率增加而增加,完全不能反映電容器實際之損失,故參數(shù)之量測應(yīng)以ESR或│Z│為主才是。

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