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首頁電子器件常見問題 關(guān)于薄膜電容的電介質(zhì)

關(guān)于薄膜電容的電介質(zhì)

2018年03月02日17:54 

薄膜電容的電介質(zhì)一旦被擊穿,不可避免的將是引起短路,從而電容器失效。


為了避免電介質(zhì)的薄弱點(diǎn)被擊穿,電介質(zhì)的選擇,總是比理論上具體擊穿強(qiáng)度的材料所需值要的厚。


因?yàn)橛休^高比例的薄弱點(diǎn),因此小于4μm的是不允許使用的。

X8R多層片容


因有選用較厚電介質(zhì)的必要性,在尺寸和所使用材料上有著不利的影響。


為了使較厚的電介質(zhì)達(dá)到特定的容量,故必須等量的增加薄膜長度,較厚的電介質(zhì),芯子也就有形成了較為正方的體積。


薄膜電容一個較薄的點(diǎn)的出現(xiàn)就會使上下表面擊穿,電介質(zhì)必須要足夠厚,才能抵擋擊穿強(qiáng)度。

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