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首頁電子產(chǎn)品動態(tài) 電容的電壓加速和溫度加速

電容的電壓加速和溫度加速

2017年08月17日16:57 

通過電壓加速與溫度加速系數(shù)可推算出電容器的使用壽命,可將產(chǎn)品使用時(shí)的外部環(huán)境溫度及施加電壓作為參數(shù)進(jìn)行公式化。


一般來說,被廣泛用于加速公式中,而我們運(yùn)用以下公式便可簡單地進(jìn)行推算。


在公式的基礎(chǔ)上,通過在更為嚴(yán)苛的條件(更高溫、更高電壓)下進(jìn)行加速試驗(yàn),可推算出產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境下的使用壽命。

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在此,我們一起來比較一下獨(dú)石陶瓷電容器的加速試驗(yàn)與實(shí)際產(chǎn)品使用的假定環(huán)境。


我們將電容器的加速試驗(yàn)中將耐久試驗(yàn)時(shí)間視為LA,將實(shí)際使用環(huán)境下的相當(dāng)年數(shù)視為LN,用于上述公式。


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