漏電流是鋁電解電容器最大的損壞問題之一，因為漏電流會造成電解液流失，導(dǎo)致鋁電解電容器過早干燥失效。鋁電解電容器在長時間無電壓儲存時，其電解液中的氯離子會對氧化鋁介質(zhì)膜造成最大的破壞，特別是在高溫儲存后接通電壓時，會造成高于正常值的泄漏電流。同時，鐵、銅離子的伽伐尼效應(yīng)逐漸恢復(fù)，使得鋁電解電容器的漏電流需要很長時間才能通過施加電壓恢復(fù)。一般情況下，鋁電解電容器使用后最好通電。

電解電容是最常用的電子元件之一，但是電解電容的一些問題一直困擾著大家。這也是阻礙片式電解電容器發(fā)展的關(guān)鍵。讓 淺談電解電容器的漏電流及其解決方法。漏電流是鋁電解電容器最大的損壞問題之一，因為漏電流會造成電解液流失，導(dǎo)致鋁電解電容器過早干燥失效。因此，使用SMD電解電容的廠商會特別注意漏電流問題。

如果長時間放置的鋁電解電容器不通電，第一次通電時的漏電流可能是正常值的100倍。電容器在儲存超過2年后是否能承受如此高的初始漏電流是一個問題。因此，在電路中安裝鋁電解電容器之前，最好先執(zhí)行鋁電解電容器的激活程序。另外，當(dāng)帶電容的電路達到或超過貯存壽命時，電容應(yīng)空載工作一小時。為了防止過量的漏電流和紋波電流使鋁電解電容器過熱“泥爆”事故時，電容器的漏電流可以恢復(fù)。可以看出，裝有鋁電解電容器的電路在貯存前應(yīng)每年通電一次，每次通電幾個小時，以保證鋁電解電容器在繼續(xù)貯存時電路中的性能。

鋁電解電容器在長時間無電壓儲存時，其電解液中的氯離子會對氧化鋁介質(zhì)膜造成最大的破壞，特別是在高溫儲存后接通電壓時，會造成高于正常值的泄漏電流。但隨著使用中氧化層的再生，漏電流會逐漸降低到正常值。同時，鐵、銅離子的伽伐尼效應(yīng)逐漸恢復(fù)，使得鋁電解電容器的漏電流需要很長時間才能通過施加電壓恢復(fù)。這個過程稱為老化或授權(quán)。一般情況下，鋁電解電容器使用后最好通電。